故障解析と大型試料における研究開発のための
最先端ナノ形状計測ツール

FAエンジニアとして結果を見出すことが求められますが、機械によるエラーやミスは当然許されません。Park NX20は、世界で最も正確な大型試料のAFMとして評判を得ており、データの正確性において半導体およびハードディスク業界でも非常に高く評価されています。

より強力な故障解析ソリューション

Park NX20には、デバイス障害の背後にある原因を明らかにし、より創造的なソリューションを開発するための独自の機能が装備されています。その比類なき精度により、作業に集中できる高解像度のデータの提供を可能にします。また、真のノンコンタクト™モードのスキャンによって、チップがより鋭く、かつ長く保たれるため、無駄な時間と費用の発生を防ぐこともできます。

初心者でも使いやすい操作方法

Park NX20は、業界で最もユーザーフレンドリーな設計と自動化されたインターフェイスを備えているため、ツールの使用や教育にかかる時間と労力をセーブすることができます。これにより、より大きな問題の解決に集中することができ、顧客へ明確でタイムリーな故障解析を行うことができます。