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News

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Apr 2018'
Press-Release
산업자원부는 2003년 8월 12일 기술표준원 강당에서 국내 36개 업체의 41개 국산 부품, 소재에 대해 신기술(NT), 우수품질(EM), 우수재활용(GR) 인증서를 수여했습니다. PSIA는 'xy축과 z축을 분리한 원자현미경의 스캐닝 기술' 의 기술력을 인정받아 NT 인증을 받았습니다. &nbs...
6
Apr 2018'
Press-Release
나노벤처기업인 PSIA는 국내최초, 자체기술로 개발한 원자현미경 XE-100으로 장영실상을 수상하였다. 4년간의 개발기간을 거친 XE-100은 X-y 축과 z축을 분리한 신기술이 적용된 원자현미경으로 기존의 원자현미경의 화상이 찌그러지는 문제를 해결하였고, 기존의 방식보다 수십배이상 높은 정확도를 제공해...
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Apr 2018'
Press-Release
PSIA는9월30일미국NASA로부터원자현미경의수주를받았으며, 관련기사가10월7일전자신문에게재되었습니다. PSIA, NASA에원자현미경공급전자신문|기사입력2003-10-08 08:30 |최종수정2003-10-08 08:30원자현미경전문벤처기업인PSIA(대표박상일http://www.psia.co.kr)...
6, Mar 18'
Press-Release
  SANTA CLARA, CALIF. MARCH 06, 2018 Park Systems proudly announces the first NanoScientific Symposium on Scanning Probe Microscopy (SPM), to be held at the Park N...
5, Mar 18'
Press-Release
SANTA CLARA, CALIF. MARCH 02, 2018 Park Systems, world leader in Atomic Force Microscopy (AFM) will showcase their world-leading Atomic Force Microscopesat the 147th Ann...
1, Nov 17'
Press-Release
Dr. Bahgat G. Sammakia, Interim President of the SUNY Polytechnic Institute, the world’s most advanced, university-driven research enterprise and home of Park Systems new...
13, Jul 17'
Park in the News
Using scanning capacitance microscopy with a Park Systems atomic force microscope a team at NASA successfully characterized both the spatial variations in capacitance as ...
11, Jul 17'
Press-Release
Park NX Wafer Low Noise, High Throughput Automatic Force Profiler with Automatic Defect Review  Park continues to produce cost saving value proposition innovations ...
19, Apr 17'
Press-Release
SANTA CLARA, Calif., April 18, 2017 Park Systems, world-leader in atomic force microscopy (AFM) recently announced the opening of their European Headquarters in Heidelbe...