Surface Potential Characterization of Two-Dimensional Materials through Back-Gate Voltage Biases
Seok-Ju Kang 1, Jong Yun Kim 1, Jaekyung Kim 2, Oh Hun Gwon 1, and Young-Jun Yu 1 1 Department of Physics, Chungnam National University, Republic of Korea 2 Park Systems Corp., Suwon, Republic of Ko...
デュアル周波数共振トラッキングによる正確でクロストークのない強誘電体ドメインの特...
強誘電体は，そのユニークな電気機械的・電気特性により，アクチュエーター，センサー，コンデンサーなど， 広く産業界で利用されています[1], [...
Investigating the origin of the domain structure in the piezoresponse of hybrid perovskites
Ilka Hermes1 1Park Systems Europe, Germany Introduction Methylammonium lead iodide (MAPbI3), first described in 1987 and since 2009 successfully applied in photovoltaic (PV) devices,1,2 cry...
A New Class of Atomic Force Microscope: FX40, the Automatic AFM
Armando Melgarejo, Cathy Lee, Charles Kim, Ben Schoenek, Jiali Zhang, Byong Kim, and Stefan Kaemmer, Park Systems Corporation Introduction This technical note introduces Park FX40, the new research ...
走査型拡がり抵抗顕微鏡と走査型キャパシタンス顕微鏡を使用した高真空でのキャリアプ...
走査型拡がり抵抗顕微鏡（SSRM）と走査型キャパシタンス顕微鏡（SCM）はどちらも、二次元キャリアプロファイリングのための確立された走査型プロ...
Intrinsic electrical characterization of two-dimensional transition metal dichalcogenides via scanning probe microscopy
Yuanyuan Shi1, Jill Serron1, Benjamin Groven1, Albert Minj1, Pierre Morin1 and Thomas Hantschel1 1IMEC, Kapeldreef 75, 3001 Leuven, Belgium *The following application note is based on ACS Nano public...
Park AFMのPinPoint™ナノメカニカルモードを使用した歯のホワイトニング研究
近年、マイクロエレクトロニクスの集積回路故障メカニズムの理解とスクリーニングに始まり、医学分野では疾患の診断、そして歯1-3の修復材料の...
原子間力顕微鏡と走査型イオンコンダクタンス顕微鏡による生細胞および固定細胞の機械...
細胞サンプルの保存プロセスにおいて、細胞の固定は幅広い生物学的アッセイに不可欠な要素の一つです。このプロセスの重要性を判断するために...
原子間力顕微鏡のPinPoint™ナノメカニカルモードを使ったコーティング層の欠陥認識
ナノエレトロにクスやエネルギー変換用のデバイスにグラフェンを実装するには、共有結合や吸着などによる材料改質が必要になることが多々あり...
Moiré patterns on 2D heterostructures via atomic force microscopy
Vladimir Korolkov, Ilka M. Hermes Park Systems UK Ltd, MediCity, Nottingham, UK. Park Systems Europe GmbH, Mannheim, Germany After discovery of groundbreaking properties of graphene in 2004,1 possib...
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